Get Electronique

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GET Electronique propose la mise en place d'une stratégie de test adaptée au besoin.

  • sur la durée (répétitivité des tests dans le temps),
  • sur la profondeur (couverture de test),
  • sur le coût,
  • sur la tracabilité.


Différentes techniques mises en place

  • Le test individuel de composants (Trackers).
  • Le test de cartes par apprentissage simple (Analyse de signatures).
  • Le test complet de cartes (Testeurs à sondes mobiles multiples).
  • Le test fonctionnel de cartes.


Exemples de tests réalisés

  • Relevé de signatures
  • Test FNODE (mesure des variations du courant)
  • Test PWMON (mesure de composants commutables)
  • Test AUTIC (mesure de courts-circuits)
  • Test OPENFIX (mesure d'effet capacitif)
  • Test THERMALSCAN (identification d'écarts de T°)
  • Test BOUDARY-SCAN (test des liaisons entre composants)
  • Test FLYSCAN procédé innovant qui consiste à coupler la technique du Boudary-scan avec les sondes mobiles afin de tester les connecteurs et les composants JTAG
  • Test FONCTIONNEL
  • Test de CONTINUITE
  • Test IN-SITU
  • REVERSE schématique


Moyens utilisés

testeurs

 

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